Сотрудники молодежной лаборатории «Микроэлектроника мультиспектральной квантовой интроскопии» Томского государственного университета разработали новые детекторы, обладающие повышенной чувствительностью. Они предназначены для неразрушающего контроля изделий из материалов, сложных для диагностики, например, волокнистых полимерных композитов. Мультиспектральные детекторы позволят проводить оценку стр...